Cod QR
Despre noi
Produse
Contactaţi-ne


Fax
+86-579-87223657

E-mail

Abordare
Drumul Wangda, strada Ziyang, județul Wuyi, orașul Jinhua, provincia Zhejiang, China
Am stabilit un sistem de inspecție Gatekeeper cu proces complet, care acoperă Incoming → In-Process → Finished Goods, asigurându-ne că produsele îndeplinesc cerințele stricte de calitate a semiconductorilor pentru dimensiuni, puritate, starea suprafeței și consistență.
Sistemul nostru de trasabilitate a procesului complet a trecut ISO 9001:2015, precum și audituri riguroase la fața locului de către producători de echipamente semiconductoare de renume mondial. În prezent, livrăm în mod stabil în fiecare lună componente acoperite de înaltă precizie către clienții [vă rugăm să completați numărul] din întreaga lume, totalizând [vă rugăm să completați numărul] bucăți, fără reclamații ale clienților cauzate de daune legate de ambalaj sau logistică.
Diagrama fluxului procesului de producție pentru ambalare în vid de calitate semiconductoare
O:Priviți temperatura procesului și intensitatea coroziunii în fază gazoasă. Dacă temperatura procesului este sub 1000 °C și implică în principal gravarea pe bază de Cl₂/F₂ sau epitaxie convențională, alegețiCVD SiCpentru cel mai bun raport cost-performanță; dacă temperatura procesului depășește 1200 °C și implică atmosfere puternic corozive (de exemplu, creșterea monocristalului SiC PVT), vă recomandămCVD TaC, care oferă rezistență superioară la temperatură și la coroziune. Vă putem oferi un raport gratuit de recomandare de selecție bazat pe parametrii specifici de proces.
O:Da! Pentru prototipuri de inginerie inversă,MOQ este 1 bucată. Pentru piesele simple convenționale, de la primirea probei până la livrarea piesei mapate, cel mai rapid timp de livrare este de aproximativ10-15 zile lucrătoare; pentru piese care implică procese complexe de acoperire este de aproximativ20-25 de zile lucrătoare. Contactați inginerii noștri pentru o evaluare rapidă.
O:90% din cazurile de delaminare sunt cauzate de nepotrivirea dintre coeficientul de dilatare termică (CTE) al substratului de grafit și acoperire, ceea ce duce la exfolierea prin oboseală la încălzire/răcire rapidă. Soluția noastră: mai întâi măsurați cu precizie curba CTE a piesei dumneavoastră originale, apoi ajustați în mod special densitatea substratului și gradientul de temperatură de depunere, astfel încât cele două CTE să fie foarte potrivite. Forța de legătură poate fi îmbunătățită la mai mult dede 1,5 orinivelul convențional al industriei.
O:Fiecare produs livrat vine standard cu unnumăr de serie unic + raport complet CoA. Raportul include: date de inspecție CMM cu dimensiuni critice, hartă de distribuție a grosimii stratului de acoperire în mai multe puncte, valorile rugozității suprafeței (Ra) și concluziile analizei purității materialului (GDMS).
Telefon: +86-18069220752(Tina);+86-15988690905(Sera)
E-mail: anny@veteksemi.com